伟测科技获得发明专利授权：“测试方法及其测试装置”
2026年05月02日 阅读:39001
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证券之星消息，根据天眼查APP数据显示伟测科技（688372）新获得一项发明专利授权，专利名为“测试方法及其测试装置”，专利申请号为CN202610004536.3，授权日为2026年5月1日。
专利摘要：本公开涉及集成电路测试领域，提供一种测试方法及其测试装置，应用于测试工具，方法包括以下步骤：确定待测芯片在测试工具的待检测区域内的初始位置；根据初始位置确定待测芯片与待检测区域的测试位置之间的位置偏移；基于位置偏移，控制构成待检测区域对应的至少一个可移动边界产生位移，推动待测芯片至测试位置。能够适配多种封装型号的待测芯片的功能，实现待测芯片的自动对准与夹持，以及测试接口的自动配置，从而解决适配性、精度和效率问题。
今年以来伟测科技新获得专利授权3个。结合公司2025年年报财务数据，2025年公司在研发方面投入了1.72亿元，同比增20.81%。
通过天眼查大数据分析，上海伟测半导体科技股份有限公司共对外投资了9家企业，参与招投标项目6次；财产线索方面有商标信息4条，专利信息76条，著作权信息80条；此外企业还拥有行政许可22个。
数据来源：天眼查APP
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